| 一种数据处理器，用于扫描探针显微镜 |
| JP2018523270 2016-6-24 发明申请 |
| 2018-10-25 |
| 通过使用探针扫描样品表面的样品表面的扫描探针显微镜每个所述多个测量点采集，1第二2第二表示变化的物理量的物理量变化的数据处理装置用于处理数据的两轴扫描探针显微镜中，或多个类型的数据从每个测量点获取的特征量计算部(41)的轴线1，一个所述用户选择的选择部(42)和量的特征量的1，一种基于二维映射的用户选择的每个像素的特征量作为二维显示器屏幕映射点1和43，二维图像映射的一个选择由用户1，所选择的1或多个测量点对应的像素相邻的像素的像素数据，屏幕显示的显示数据与两轴心线44。 |
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