| M×X射线显微镜 |
| WOUS18027821 2018-4-16 发明申请 |
| 2018-10-18 |
| X射线显微系统使用具有微阵列微梁或纳米级的光束强度轮廓，以提供可选择的照明区域的微米或纳米级物体。阵列检测器被定位成使得探测器只探测X射线的每个像素对应的单微孔或纳米梁。这允许从每个X射线检测器像素产生的信号以识别与特定的，限制微米或纳米级的照射范围，供取样的所述物体的透射图像的微或使用时要生成的纳米级检测器像素具有较大尺寸规模。因此可以使用探测器具有较高的量子效率，由于只通过横向分辨率的微型或纳米梁的尺寸。微或使用可产生纳米级的光束阵列X射线源和一组式Talbot干涉条纹。 |
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