| 全偏振测量显微镜 |
| CN201710147924.8 2017-3-13 发明申请 |
| 2018-9-25 |
| 本发明公开了一种全偏振测量显微镜，其特征在于，包括沿入射光方向依次设置的准直透镜、滤波片、物镜、偏振调制组合、成像镜以及CCD相机，待测样品设置在所述滤波片和所述物镜之间，所述物镜和成像镜具有放大倍数；其中，所述偏振调制组合包括沿入射光方向依次设置的第一改进型萨瓦偏光镜、半波片、第二改进型萨瓦偏光镜以及偏振片。本发明采用静态的偏振调制组合替代光电调制系统或者旋转系统，只需一次测量，便可获取目标全部的偏振信息。 |
微信公众号