| 荧光显微方法，以定量显微镜检查系统 |
| JP2018036573 2018-3-1 发明申请 |
| 2018-9-20 |
| [问题]为了量化镜检的荧光显微系统。原卟啉IX荧光显微定量方法[A]，第一21第二23712目标区域在探测器的探测器领域领域。在阶梯形式，每个波长相关转移特性的滤光片的滤光片，第二343312)是不同的，目标区域设置在所述检测器的光束路径的步骤，至少第一(第二)1·2荧光激发原卟啉IX，1·2第一和第二进行记录的步骤，通过确定所述对象的目标区域第一代表的多个位置处的荧光强度空间相关的荧光强度的步骤包括荧光区1，值，一个检测器的辐射强度2，字段2的检测器波长依赖性的检测效率，第一和第二磷1·2基于荧光的荧光光谱。图[图1] |
微信公众号