显微镜观察方法,以及控制程序
 
JP2017552256  2015-11-27  发明申请

2018-9-13
 
  [问题]为了提供一种斜照射来自显微镜的样品中,所述样品井可获取的显微镜的横截面厚度。一种显微镜(1)[a],从照明光学系统的照明光(L)照射样品(4)和倾斜,(21)(5),30)的观察光学系统具有物镜,物镜(2)和至少一个用于固定样品,(21)和物镜(9)的光轴在同一方向上移动的控制,用显微镜,控制部,和至少一个的物镜载置台的移动时,改变照明光的入射角度样品。
 
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