扫描探针显微镜样品结合表面改性的装置
 
RU2017103761  2017-2-6  发明授权

2018-5-7
 
  领域 : 测量设备的方法。本发明涉及一种测量技术,更具体地涉及扫描探针显微镜,用于测量样品的表面进行机械改性后得到的该表面。本发明的实质是扫描探针显微镜中与样品表面改性装置包含支架组件(46)安装在底座(1)内,用于在其上安装可移动的托架26,所述第三驱动器31具有的能力开放的接口与活动拖板26。效果 : 本发明的技术结果由样品40和改善切割质量,因此,降低误差测量样品表面[40.5]Cl,2的双层管
 
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