| 选择性平面照明显微镜(SPIM)系统和方法 |
| US15516620 2015-10-2 发明申请 |
| 2017-10-12 |
| 在一个实施例中， 一种用于捕获由被照射样品发射的光的选择性平面照明显微镜系统，包括 : 样品台，其具有适于支撑样品保持器的顶表面和适于提供到保持器的底部的通路的开口， 以及位于载物台下方的选择性平面照明显微镜光学系统，该光学系统包括激发物镜、检测物镜和适于容纳Quid的开顶空心棱镜，其中棱镜位于载物台的开口内，物镜的光轴与棱镜对准，使得轴穿过棱镜并在靠近样品载物台的顶表面的位置处相交。 |
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