| 显微镜以及观察方法 |
| JP2017032133 2017-2-23 发明申请 |
| 2018-8-30 |
| [问题]为了能够检测待观察的位置，通过显微镜。[解决方案]该显微镜(1)，2，1，第一和第二发光的光L1，L2通过光照射样本S，光L1，L22，1，第一和第二的物镜(20)照射光，第第一区域(第一)的光(L1)的入射光瞳面上的物镜(20)在#11，和至少第一的一部分区域2与第一中的物镜(1)不重叠第二光L2入射光瞳平面2，第一光第一的光路L1，L2，2，1设定部(14)用于设定光路所述光路，光检测部(6，7，并且提供。图[图1] |
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