| 基于一阶贝塞尔光束的STED超分辨显微镜及其调节方法 |
| US15755072 2015-11-20 发明申请 |
| 2018-8-30 |
| 受激辐射耗尽(STED)超分辨率显微镜包括激发光源、耗尽光源、激发光扩展光束对准系统、螺旋形相位板、贝塞尔光束产生系统、耗尽光聚焦透镜、光束组合系统、物镜、压电扫描系统、滤波器、信号采集系统和单光子探测器。 耗尽光可以是一阶贝塞尔光束。 耗尽光具有抗散射和自愈特性，并且能够在样品的较深位置保持光斑形状，从而提高样品的深区域中的图像分辨率。 与使用可调节校正环的传统STED超分辨率显微镜相比，本发明的实验操作更简单，并且不需要主动调节。 与自适应光学系统相比，本实验装置简单、成本低。 |
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