在AFM显微镜的侧向力标定方法及装置侧向力标定的AFM显微镜
 
EP17460072  2017-12-4  发明申请

2018-8-15
 
  本发明的主题是用于校准施加侧向力的装置通过原子力显微镜测量杆。该装置可以直接确定(lfm)侧向力显微镜中的侧向力标定系数。
 
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