| 结构化平面照明显微镜 |
| US13844405 2013-3-15 发明授权 |
| 2018-8-14 |
| 一种装置包括 : 光源，被配置为产生具有波长λ、光检测器的相干光束；光束形成光学器件，被配置为接收所产生的光束并产生沿第一方向定向到样品中的多个基本平行的类贝塞尔光束；以及光束形成光学器件，被配置为接收所产生的光束并产生沿第一方向定向到样品中的多个基本平行的类贝塞尔光束。 每个类贝塞尔光束相对于其他类贝塞尔光束具有固定相位。 成像光学器件被配置用于接收来自样品内由类贝塞尔光束照射的位置的光，并用于将所接收的光成像到检测器上。 成像光学器件包括检测物镜，该检测物镜具有沿与第一方向不平行的第二方向定向的轴，其中检测器被配置为检测由成像光学器件接收的光。 处理器，被配置为基于所检测到的光生成所述样本的图像。 |
微信公众号