| 3维结构化照明的概率荧光显微镜分辨率的方法和系统 |
| JP2015533016 2013-9-23 发明授权 |
| 2018-8-8 |
| 样品成分的位置的方法和系统，以解决随机荧光显微镜中使用三个SIM的三维结构化照明显微镜(“3D”)公开了。在一个方面中，试样成分被标记有荧光基团和弱照明光的随机频率转换所述荧光团成活性状态的子集。然后照射样品与三维结构化照明图案的SIP(“3D”)的激励光引起的激活荧光团发出荧光。作为本实用新型的3D SIP内的样品的体积和递增地移动图像被记录，上述计算方法，用于处理所述图像以定位并激活荧光团细化的位置，从而生成样品成分的超分辨率图像。 |
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