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发光分析方法通过原子力显微镜上的荧光团的荧光探针

EA201700166 2016-12-30 发明申请

2018-7-31

本发明涉及工程探针显微镜。本发明的效果在于使用简化实验设备，在一侧，由于工艺的简化光路激发发光分析中光子和经典的转接方法和记录nanometrovyi位上，另一侧。传输允许精确定位被测样品上方位置的荧光探针，分别，可使局部化学分析，还研究的能量共振转移在发光结构表面的特性相关研究的样品。