| 相位显微镜系统和方法 |
| US15581731 2017-4-28 发明申请 |
| 2018-7-19 |
| 本发明提供了一种相位显微镜系统和方法。 所述系统包括 : 光源，用于产生准直光； 对象排列组件，被配置为提供掩模和样本； 显微成像部件，包括显微镜和传感器，所述显微镜被配置成将连续通过所述掩模和所述样品的光投射到所述传感器中以捕获图像； 以及控制部件，被配置为基于通过所述样品和所述糊化物的图像以及所述掩模的预存储参考图像两者来重构所述样品的相位信息，其中所述预存储参考图像由所述相位显微镜系统预获取，而不是在相同光条件下提供所述样品，所述控制部件被配置为基于所述样品和所述糊化物以及所述掩模的预存储参考图像两者来重构所述样品的相位信息。 通过本发明，能够准确、快速、高分辨率地获取显微样品的动态相位信息。 |
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