| 显微镜物镜光学系统的显微镜物镜光学系统的像差校正方法 |
| JP2016249897 2016-12-22 发明申请 |
| 2018-7-5 |
| [问题]通过观察待观察的光学系统对无限远校正显微镜物镜型介质；所述培养基包含低折射率材料如硅等的各种即使在高折射率光学玻璃折射率材料，具有良好的像差，尤其是球面像差和彗形像差校正光学系统的显微镜物镜。[技术方案]该正折射光焦度的前组的共固定化，负折射力的像差矫正值，平行平板之间形成插入空间，一种介质厚度的折射率，折射率的平面平行板插入不同厚度的至少一个上像差校正光学系统的显微镜物镜的像差校正装置。图[图1] |
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