| 方法和用于检测粒子的体积的亚衍射光学显微镜 |
| WOIB17058544 2017-12-30 发明申请 |
| 2018-7-5 |
| 光学显微镜(100)，用于检测样品中尺寸颗粒具有亚衍射，包括 : 一显示系统(50)，具有第第一物镜(01)；一种极化装置(6)；分析器系统(60)，具有第二物镜(02)和反射元件(7)，其中第一物镜之间的光路(01)和第第二物镜(02)分为完全相同的两部分相对于一个联结平面对称；传感器器件(S2)，其构造成检测多个相对应的多个偏振光束的结构极化装置(6)，其反射的反射元件(7)，从而获得多个图像；和一个或多个处理单元，用于进行二维获取所述多个二的分析方法影像。 |
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