| 一种原子力显微镜样品标定方法 |
| CN201711470141.X 2017-12-29 发明申请 |
| 2018-6-29 |
| 本发明涉及一种原子力显微镜样品标定方法，属于显微镜标定技术领域。该方法首先将样品涂布到样品基底上；样品基底干燥后，自上而下，依次将样品基底与标定铜网和载玻片粘接，在高倍光学显微镜下观测，寻找到合适的样品并记录其在标定铜网上的位置；在原子力显微镜内置的低倍光学显微镜下，通过标定铜网的标示，寻找到该样品，然后下针，得到样品的原子力显微镜图像。本发明的原子力显微镜样品标定方法提高了样品位置定位的精确性和便捷性，可以快速记录样品位置，可以同时对多个样品位置进行标定，可以大大节省上机时间和上机费用。 |
微信公众号