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用于校准的方法在AFM显微镜的侧向力和侧向力标定装置在AFM显微镜

PL41966916 2016-12-2 发明申请

2018-6-4

本发明的主题是一种用于校准原子力显微镜(AFM)测量杆施加的横向力的装置。本实用新型可直接测定侧向力显微镜(LFM)中的侧向力校准系数。