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多束粒子显微镜
DE102016120902 2016-11-2 发明申请
2018-5-3
多束粒子显微镜包括多束粒子源,用于产生多个初级粒子射束,物镜102聚焦初级粒子束和检测器阵列,用于检测物体平面101中二次粒子射束的强度。每个初级粒子束被分配一个二次粒子射线束。所述物镜的物平面101之间的多孔径板设置10211,具有多个开口37。多孔径平板11不同的光路穿过的开口37不同的初级粒子束的各种不同的开口37,通过该多孔径板11也不同的二次粒子射束的光路。
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