| 一种透射电子显微镜的物镜 |
| JP2016183961 2016-9-21 发明申请 |
| 2018-3-29 |
| [问题]为了减少磁场对样品的影响，并且，高分辨率的物镜观测。所述物镜(100)为[A]，第二场透镜2，1，10，20包括第一和第二磁场型透镜，第二透镜10与透镜20是磁场型的2的1字段，第一的磁场10产生的磁场在沿光轴(L)方向的透镜(1)和所述部件产生的磁场通过场透镜2的光轴L沿所述方向部件20，样品2中的表面设置相互偏移设置，一种第二向场透镜10与透镜20，1，2场型，分别，所述内磁极(15)，25，外柱(16)，26，具有，外柱(16)，16的顶端26，26一种样品安放表面2之间的距离，所述内磁极(15)，25的尖端15，25一种样品安放表面之间的距离小于2，外磁极16，16的末端26，26A，光轴(L)向外伸。图[图2] |
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