| 使用其的显微镜显微物镜光学系统 |
| JP2017066239 2017-3-29 发明授权 |
| 2018-3-20 |
| 本发明提供一种显微镜物镜光学系统，其使得能够充分抑制观察图像中的像差的均匀在一微米量级上的情况下，样品接触或邻近设置所述面最靠近物体侧上的光学系统。显微镜物镜光学系统包括物镜透镜组G11，第第一成像透镜群(G11)，第第二成像透镜群(G12)，从物体侧按顺序。通过移动第二来执行聚焦成像透镜群(G12)，部分或全部，沿光轴上。样品被设置成接触或相邻的面上的物镜透镜组G11最靠近物体侧。显微镜物镜光学系统满足以下条件式 : -0.1 |
微信公众号