| 荧光显微镜系统 |
| EP17195837 2014-1-21 发明申请 |
| 2018-3-14 |
| 荧光显微镜检查系统(810)，其包括 : 一微镜元件(820)具有视场；荧光激发装置(812)包括光源(814)输出的光，和光学系统(818)被配置成将所述激发光的激发光束中的标本样品平面，激发束光束同时适用于具有分布的视场照明基本上所有的所述微镜元件(820)；检测器(840)，被配置为检测从被检体的成像光；所述微镜元件(820)包括物镜(830)可调节地定位以接收成像光从试样中以及沿成像光路聚焦到检测器(840)；镜子(824)定位成将激发光束沿基本平行的激发光束路径与路径用于成像光到检测器(840)；以及物镜旁路(900)设置在所述激发光束路径(906)以接收激发光束，激发光束聚焦，并引导激励光束聚焦于样品平面的标本。 |
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