| 方法用于调整激光扫描荧光显微镜和激光扫描荧光显微镜自动调节装置 |
| EP16187303 2016-9-5 发明申请 |
| 2018-3-7 |
| 用于调节激光扫描或检查正确地调整荧光显微镜(15)，强度最大值(1)中的激发光(6)和荧光光线的强度最小值(4)(7)荧光探测器之前和/或映射(18)中设置孔的孔(2)的焦点透镜(20)重合，样品中标记有荧光染料的结构(22)的强度的最大值(1)的激励灯(6)扫描，图像(A上，B)将所述样本(22)的图像(3，30，31，32)以产生上述结构，和从图像(3，30，31，32)所计算的度量图像中的结构，所述偏离正确的调整指示。所生成的图像对应于不同强度的同时防止日光灯(7)和/或不同孔径的孔(2)，所述度量是一个偏移(8)的层与层之间的结构的图像中生成的图像。 |
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