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用于使用两个波长光在扫描光学显微镜中检查单个物镜的双倍放大设备和系统

US15623848 2017-6-15 发明申请

2018-2-22

提供了用于在扫描光学显微镜中测试和观察单个物镜的双倍放大系统和装置以及使用这些系统和装置的方法。两个光路允许两个波长的光被放大到分开的放大级别，使得较低放大倍数的光路可用于检查目标区域，而较高放大倍数的光路可用于检查目标区域的子集并引起测试样本响应以定位感兴趣的条件。