| X射线激光显微镜系统和方法 |
| US15713645 2017-9-23 发明申请 |
| 2018-1-25 |
| 改进的X射线激光显微镜系统和方法，它结合了从X射线衍射和X射线成像方法获得的信息。 将样品置于超冷、超低压真空室中，并暴露于利用X射线反射镜和针孔准直方法进一步浓缩的相干X射线照射的短暂爆发下。 使用硬X射线激光(例如自由电子X射线激光)和X射线衍射方法从样品获得更高分辨率的数据。 使用任何硬X射线激光源或软X射线激光源，以及使用纳米级蚀刻波带板技术的X射线成像方法，都可以从同一样品获得较低分辨率的数据。 在一些实施例中，可以同时获得衍射和成像数据。 来自这两个源的数据被组合在一起，以创建更完整的示例表示。 还公开了进一步改进性能的方法，例如凹形或弯曲探测器、改进的温度控制和替代的X射线光学器件。 |
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