| 在显微镜系统和方法 |
| JP2013172455 2013-8-22 发明授权 |
| 2017-12-20 |
| 所要解决的问题 : 本发明提供一种显微镜系统和测量方法，能精确测量的辐射照度的照明灯该样品进行照射，使桌子显微镜系统包括 : 光源，其射出照明光照射样品；选择任意的保持装置，用于保持样品和第一检测部，其检测照明光的强度arrangeably上的照明光的光路；一种光路转换/分支光路改变装置的照明光的第第一光路引导由保持装置保持的样品和/或从第一到第二的光路不同的光路；第第二检测部，其设置在第第二光路，第一检测用部件和光学共轭的位置处，和改变照明光的强度的检测和/或分支到第二光路的光路变换/分装置；以及计算校正部件，用于将每个检测强度的基础上计算辐射照度第一，第二检测部和照射面积照射照明光的样品表面，校正辐射照度，根据由第第二检测部检测出的强度的基础上，辐射照度。 |
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