| 工艺用于光片样品的显微镜检查 |
| DE102014119255 2014-12-19 发明申请 |
| 2016-6-23 |
| 光片显微本发明涉及一种用于分析样品的方法(1)，在若干照明波长选择，从所述样品的照明光(1)由。用于平均波长π的设置相选择元件上的调制深度。它相选择元件施加在一预定的相位分布和孔(24)中的止挡面预定快门结构，这使得能够，照明光包括多个所述样品的照明波长的组装和(1)与复合的多颜色照亮光片。该照明objectiveadvantages波长在所选焦平面和(10)用于电场所述预定形状的光，其光sheetadvantages决定的波长。该预设定的标称相位分布的计算。所述phaseselective元件照射的照明光并具有结构化phaseselective元件的照明光。结构化照明光线映射入一个挡平面和所述第零指令的多颜色，遮盖结构光，使结构化照明objectivelight片在下游的焦平面(10)形成，具有光片层，该在于垂直于照明物镜的焦平面(10)。样品(1)发出的光的照射从样品在结构光sheetlight片级和检测中检测方向，包括非零角度与光片的水平。 |
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