| 荧光寿命成像显微镜具有时间相关单光子计数方法，该方法允许较高的光强度 |
| WOEP17062656 2017-5-24 发明申请 |
| 2017-11-30 |
| 本发明涉及一种荧光寿命成像显微镜具有时间相关单光子计数方法，所述样品(36)的周期性光子激发发出荧光的激发光脉冲通过脉冲光源(12)，所述测量间隔被限定在每对相邻的激发光脉冲，所述荧光光子检测器(42)通过检测和模拟检测器信号表示检测到的荧光产生光子，检测时刻的光子被检测的荧光由检测器(42)在测量间隔，确定基于所述检测器信号，至少一个值的基础上确定表征荧光衰减表现的检测次数。荧光光子检测和成像的基础上进行的表征值。模拟检测信号进行采样，在每个测量间隔中的多个采样及转换成一系列的个体采样间隔离散信号相关联的值。在基于所述一系列离散信号相关的测量值属于区间，它确定是否发生了多于预定数量的荧光光子测量间隔内已经检测到。这个测量间隔，丢弃所述确定的表征值如果超过所述预定数量的荧光已经检测到的光子。 |
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