| 结构光显微镜观察方法，以及控制程序 |
| JP2016573005 2015-2-5 发明申请 |
| 2017-11-16 |
| 厚度大于所述成像光学系统的焦深超分辨图像[向]试样能产生结构化照明显微镜。(1)将结构光显微镜[A]，样品包含用于激活光激活荧光物质(S)，样品1(X方向)发出的照明光学系统第一和第二(11)1，2的方向(Z方向)从第第二方向不同的第第一1，激发光激发荧光物质，第一(31)和照明光学系统，用于将样品与干涉条纹2，所述相位控制部分(7)和方向的干涉条纹，干涉条纹(55)与成像光学系统形成的图像照射样品，所述成像光学系统(56)和第二发生元件1通过图形化形成的，使用多个生成的图像的成像1，2(6)和生成第第一解调部分，被提供。 |
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