| X-射线光谱仪 |
| JP61172429 1986-7-21 发明授权 |
| 1997-2-12 |
| 目的 : 同时测量PK和BG的特征X-射线， 通过提供X射线检测器入射狭缝板的表面在分光晶体侧 在平行于狭缝。 构成 : X射线的强度分布表示背景强度的(bg)分光镜射狭缝移动轨迹上显示的变化。 因此， 当X射线强度的位置处的接收不影响峰费用的特征X-射线， 即， 位置处隔开一定距离的聚光位置(狭缝位置)的特性X射线进行测量， 所述强度BG。因此， 通过提供X射线探测器3的位置处隔开一定距离的出射狭缝 分光晶体1， PK的峰强度特性X射线的冷凝到点燃的能始终与BG的同时测量。 |
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