光学系统,尤其适用于显微镜
 
DE102016203749  2016-3-8  发明申请

2017-9-14
 
  本发明涉及一种光学系统,特别是用于显微镜检查法,与分束器(100),200,300,400,500,600,700,800,900),其中,光入射表面和光出射表面,所述分束器用于预定波长范围的光入射表面上的光学系统进行工作事件电磁辐射吸收到小于20%,并且其中所述分束器光学系统被设置成,其操作的光学系统的光入射面和/或出光面上出现的,在各自表面法线至少70°的入射角相关。
 
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