| 所述数据-处理装置的质量光谱仪 |
| JP62149877 1987-6-16 发明授权 |
| 1996-7-24 |
| 本发明提供一种峰值轮廓数据的存储装置，通过将峰值轮廓数据显示在CRT上，能够校正由测量噪声和杂质引起的峰值变形，并且能够提高测量精确质量数的精度。 本发明提供一种质量分析装置，其特征在于，在质量分析装置中，在规定的质量范围内进行质量扫描来进行测量，以质量单位进行测量输出的采样。 存储测量数据3，在CRT5上以整数质量显示显示质谱。 CPU2在分析器从所显示的峰中指定标准样品峰和待测样品峰时，用详细的质量显示来宏显示所指定峰的轮廓。 另外， 分析器从该程序中判断是采用峰值顶的位置还是采用峰值质心作为峰值中心，然后分析器命令CPU2执行对应于各个情况的程序以确定峰值中心。 CPU根据装置的地址数据计算出被测样品的精确质量数，并将其结果显示在CRT或记录器上。 |
微信公众号