| X-射线光谱仪装置 |
| GB6407863 1964-2-25 发明授权 |
| 1966-9-21 |
| 1, 043, 374。X-射线衍射装置。hitachiLtd。1964年2月25日[1963年4月5日]，专利7863\/64。标题h5r。为了容易施工困难，E。G。通过所述所述部件之间的间距的降低，一种X-射线光谱仪，其中所述的X-射线源和该弯曲的衍射晶体被设置到被所述的罗兰圆的圆周上，所述检测器被定位在所述所衍射的X-射线路径，近到所述晶体而不是所述圆周上的所述的罗兰圆。该光谱仪系统可以被一种线性或旋转式的。在第一，该样品1(图。2)被固定，一个加速电子的一被引导到其上的光束以产生特征X-射线，在一发散光束，在一个方向B。所述衍射晶体2被定位在该直线在该方向上一些点B和在所述的罗兰圆的圆周通过所述源极1。代替该圆上的定位该检测器3，其中所述衍射光线被聚焦，它被放置作为近到所述晶体2为是方便。该光谱仪所述的整体尺寸因此降低了其在所述的生产是有利的是一种高真空该光谱仪容器中。该关闭定位还提供了一种较高强度的X-射线在所述检测器，和允许简化结构和直接读取的波长。该旋转型(图中。4，未示出)，上述获得的优点是尽管该装置是不为作为所述线性型紧凑。所述晶体是设置在所述圆周一固定的罗兰圆上一些点通过一个固定样品; 而所述检测器是位于所述衍射光线的路径中更靠近所述晶体比所述的圆周所述圆。该晶体用于可被所述的johann或约翰松型，其半径的曲率被分别两次，和等于，使所述的罗兰圆。 |
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