| 扫描型X-射线分析装置 |
| JP56170468 1981-10-24 发明申请 |
| 1983-4-28 |
| 目的 : 以X-射线的精确测量信号强度在短时间，通过一种方法，其特征在于，一个计数器用于计数信号X-射线的强度被提供，启动定时是由一分频信号控制从一频率除法器，和计数通过一个信号从一定时器操作被停止，用于计数时间。结构 : 入射X-射线S10一种扫描型X-射线光谱仪1是在样品11衍射，并施加以一检测器2作为衍射X-射线S11。施加与扫描信号S20，该光谱仪1通过microunit扫描量。每个时间该光谱仪1进行扫描所述固定量，时间计数定时器5和一个X-射线信号强度计数的计数器6开始计数操作。该计数器6所述的计数操作被停止时所需要的时间用于该光谱仪1用于扫描所述固定量的具有传递，或当所述用于所述定时器5，它是较短的时间设定一预定比上述具有传递比。所述扫描率光谱仪1所述的每单位时间被设计成被所述计数操作期间恒定所述计数器的6。因此，所述的平均X-射线信号强度是获得所述的扫描速率无关。 |
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