| 分子射线的采样装置 |
| JP01092847 1989-4-14 发明申请 |
| 1990-11-7 |
| 目的 : 以避免所述在所分析的灵敏度在所述时间劣化通过所述散射的气态reincidence分子以一四极质谱仪通过提供一种冷却表面具有一低温度。在所述壁表面部分到被照射后，该部分附近的所述的检测部的所述通道该光谱仪。结构 : 所述自由分子的剩余部分流，它是不取成所述四极质谱仪10; 被投射穿过所述的电离部分101所述四极质谱仪到所述的冷却表面30设置在所述一第三腔室的壁。所述的冷却表面30被冷却的液体氮。该温度。所述的冷却表面30，因此，非常低和所述入射气体分子被大部分吸附，通过其所述的解吸和散射被避免。该散射的所述气态分子和所述reincidence到所述四极质谱仪10所述分析期间被避免。 |
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