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电子自旋共振光谱仪

US07153092 1988-2-8 发明授权

1989-12-12

本发明公开了一种电子自旋共振光谱仪，其中由半导体材料等制成的样品在被施加磁场和微波的同时被光照射，以基于在样品上出现的光感生电压或样品的微波吸收引起的微波强度的降低来检测由于样品的光照射部分中的缺陷引起的电子自旋共振。