原子吸收光谱仪和分析方法及其
 
DE3906930  1989-3-3  发明申请

1989-9-7
 
  所述原子吸收光谱仪包含,用于所述一数量的元件具有不同的灰化的同时分析和雾化温度; 一装置(36,52,54),用于调整该焚烧温度,以使用于所述元件与所述最低焚烧温度和用于调整所述温度用于atomising所述元件为原子与用于该元件与所述最高雾化温度,和一种装置(50,36)用于实现一背景校正使用所述的塞曼效应。<图像>
 
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