| 自动分析装置 |
| JP62080251 1987-3-31 发明申请 |
| 1988-10-11 |
| 目的 : 以提高精度的分析和以加速其自动化通过移动一样品以所述偏振光辐射所述的用于一种检测样品中的峰值位置选择的光谱波长上的偏振光方向根据数据。结构 : 光从光源14是穿过透镜14和16和偏振通过一个偏振板17，和然后会聚和投射该样品5上。所述光发射通过所述样品5被引导出所述装置的真空通过一反射式光学显微镜35以及仅在一指定的光被偏振的方向被传送通过一个分析器33和衍射频谱和检测由光谱仪36。然后，数据在所述偏振的光照射所述用于所述获得的样品检测到的峰值的位置，所述选择的极化光方向，和光谱波长，等，被存储在存储装置31。所述数据存储在所述存储装置31被使用，和一个样品台7被移动和安装由平台驱动部8在一个存储在所述存储装置31对应的位置到目标相位被分析，和一种X-射线光谱仪32进行波长扫描，以量化元件。CPU30执行所述定量测量值的校正计算在各个测量点，以显示一个定量分析值。 |
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