| 阵列式分光光度检测器 |
| JP62030851 1987-2-12 发明申请 |
| 1988-8-17 |
| 目的 : 到下一噪声电平通过提供两个阵列型光检测器，所述出口表面上的一光谱仪，检测样品具有相同波长光与参考光在所述相同的时间和计算吸光度，和消除变化在所述一光源的光的量足够。结构 : 所述样品的光穿过样品池2和所述参考光，其穿过一个参考单元3被入射在一个凹面衍射光栅12，它通过一个狭缝14a构成该光谱仪。一个样品-侧光电二极管阵列16作为一个阵列式光检测器被设置在所述出射表面的所述光谱仪包括所述光栅12在所述样品-所述狭缝14a侧的图像形成位置。一参考侧光电二极管阵列18作为一种阵列型检测器被设置在所述参考侧的图像形成位置所述狭缝14a。一信号处理器20输入该阵列的所述相同的波长的检测信号部16和18在所述相同的时间来计算吸光度。因此，所述噪声电平被降低。 |
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