| 光谱荧光光谱仪 |
| JP61313259 1986-12-29 发明申请 |
| 1988-7-12 |
| 目的 : 以荧光强度的同时测量该三-维谱，而不进行机械扫描在所有如果一个二维阵列被使用作为一个检测器，通过构成每一个激励侧的分光镜和荧光侧的分光镜polychromerter和允许该分散两个分光镜，以彼此交叉的方向在直角。结构 : 所述的光从光源2是一个衍射光栅22通过一个入口狭缝上的投影26，以被所述光栅22和所述激励光中衍射光谱分散在垂直方向的一个被允许以照射该样品在样品电池6通过一个狭缝28。所述荧光产生从所述样品是通过一衍射光栅24衍射光谱通过该入口的狭缝一荧光侧分光镜，以被分散在水平方向B所述二维正交坐标上的荧光强度的33; 其中所述所述激励光的波长λex被设置为一个坐标和所述荧光的波长λEM被设定到所述其它坐标，是获得一个二维光电二极管阵列检测器32上。这里，每个所述的方形测量的一个检测器32被允许到对应于每个阵列的元件。通过这种结构，一光谱荧光光谱仪可获得的两个的激发光谱和荧光光谱被形成。 |
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