| 发光分光分析仪 |
| JP60297491 1985-12-30 发明申请 |
| 1987-7-23 |
| 目的 : 使它可能以缩短测量时间，而不降低s\/N值，通过设置该积分时间一个检测信号的，使得所述积分时间是设定短时，所述检测信号电平是大和一组长时，所述信号电平是小。结构 : 一样品是通过感应耦合等离子体激发一个光发射部分1中以被允许以发射光，其是，在匝，仅用于所述相同的测量时间为一个恒定的时间(t)在第一在一光谱仪2指示的每个波长的位置和通过检测获得的输出中减去所述校正值对应于所述所述的光的波长从所述的所述时间积分值被设定为S和T被t=1\/(Ks)2(K由数据处理器cpu6系数)被计算和，接着，该检测信号一检测器3是集成的用于一T-通过一个积分器4计算的时间(积分值\/T)作为所述检测所述波长的光的强度。当积分测量用于所述T-时间被完成，cpu6立即移动该光谱仪2到下一个波长位置。和，该光谱仪2是设置在所述下一位置时，所述积分器4是用于下一测量清除和所述相同的操作被重复。通过这种方法，整个测量可以被同时执行一个几乎相同的s\/N值是通过分配保持一个用于每个测量波长适当的积分时间。 |
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