| 质量光谱仪 |
| JP60280952 1985-12-16 发明申请 |
| 1987-6-23 |
| 目的 : 通过分配与所述的重排以增强分析效率一种基于离子源在一个分析系统，通过电离室之间加入一个加速电极和一透镜电极以其间插入一长的目标和改变在所述的所述加速电极电压根据所述的分析系统。结构 : 在所述离子源部的质量分析仪由一目标15的与其中一个离子或一种粒子发生碰撞，一透镜电极12加速所述二次离子通过溅射形成由于碰撞和一个电离室11，用于电离气体样品，一个加速电极23之间加入所述电离室11和所述透镜电极12和所述目标15的右角处从所述方向被传送到所述抽出所述二次离子到所述的方向该电离室11之间的区域和所述电极23通过一传送装置18。一电压改变-在装置26被提供以改变所述电极-在所述的电压23根据一种分析方法。通过这种方法，一种系统，用于分析所述二次离子一个高的速度时产生的粒子是允许与所述目标15的其中一个几乎不发生碰撞易失性组件是在一薄的层是由容易地开发兼容与一气体色谱质谱仪。 |
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