| 质量光谱仪 |
| JP60271516 1985-12-4 发明申请 |
| 1987-6-15 |
| 目的 : 使所述获取的一种有机二次离子质谱，通过冷却一目标用于开发一种样品成分同时溅射粒子光束局部加热该位置，其中，溅射粒子光束的影响。结构 : 一用于一薄层层析(tlc)TLC目标1是一个电离室3中提供的一质量光谱仪。一个样品被放置到被浸入一种显影的液体和该电离室3是冷却与氮液体。然后，溅射粒子光束TLC拍摄目标1从一电子枪5。一加热源12提供相对于所述的电子枪5和照射离子撞击部的所述TLC目标1与红外射线以局部加热。然后，在10释放从所述目标1是与一个检测器检测通过电和磁场。因此，所述的TLC目标被冷却以防止显影液体的蒸发，同时所述冲击部分被加热到被液化的离子化。这使得所述获取的所述有机SIMS光谱，从而防止该污染的内部质量光谱仪。 |
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