| 荧光光谱仪 |
| JP54016793 1979-2-16 发明申请 |
| 1980-8-23 |
| 本发明提供一种荧光偏振光谱的测定方法，其特征在于，将光学系统的偏振特性作为波形的函数存储在荧光侧，然后根据存储值进行固定公式的校正运算，从而能够测定荧光偏振光谱。 构成： 与激发侧分光镜2相对应的激发侧偏振片3和从样品4分离荧光的荧光侧分光镜6的荧光侧偏振片5水平设置，且偏振方向一致， 操作面板20上的“0”和“G()”键的操作启动分光镜6的波长泄漏，以将荧光光谱I1()存储在RAM16的区域17中。 类似地， 用偏振器3和5的偏振方向成直角交叉测量荧光光谱I2()，并通过计算机15读出区域17中的存储数据， ROM19，RAM16等用于基于公式I的校正算法，从而即使荧光波长不均匀，也可以容易地测量荧光光谱P()。 在该公式中，G()表示对应于I2()与I1()的比率的偏振特性。 |
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