| 质量光谱仪 |
| GB8700442 1986-8-27 发明申请 |
| 1987-2-11 |
| PCT号PCT\/jp86\/00439秒。371日期1987年4月30日秒。102(e)日期1987年4月30日提交的PCT1986年8月27日的PCT公开号。wo87\/01452号PCT公开号。日期1987年3月12日。一种装置，用于分析的离子团是一种靶6上进行的是当样品产生的成分是轰击与一种伯束4。生产的离子和中性粒子从份，其它比样品成分的与D在该靶6应以被最小化，作为得多的作为可能的。以达到这种分配，该主光束4之间为防止从轰击的靶6份时该样品成分的一种以D所述靶6通过该位置上，其中它们将被轰击与该主光束。 |
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