| 质量光谱仪 |
| JP60188283 1985-8-27 发明申请 |
| 1987-3-2 |
| 目的 : 一种状态，以允许所述的易于分析所述温度的变化。一种的样品，通过取温度等。或温度。在结合与横坐标的时间在所述轴和所述检测到的离子强度在所述纵坐标的轴和记录所述输出从一质谱仪。结构 : 一气体引入样品是通过一个选择器阀为一气体色谱仪。所述气体是还引入直接通过一个接口如果到所述不经过所述相同的质量光谱仪通过所述气相色谱仪通过该选择器阀。所述输出从所述的质谱仪是通过一个接口a1到该CPU通过其读取该数据所述读取的信号是一个打印机，绘图仪上显示等一图(b)。该等间隔的所述基座的下侧上的刻度线在所述X-轴方向是一温度。比例和所述不规则地间隔开的上侧上的刻度是所述时间尺度绘制由所述CPU和被不规则地分度根据所述加热进度表中的一种气体发生器。该分析气体与时间的变化是显示在与所述温度的关系。通过这些两个刻度; 因此，该分析的所述通过所述温度状态变化。所述的材料，等是由容易。 |
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