| 用于spectrofluorometric分析仪 |
| JP59259163 1984-12-10 发明申请 |
| 1986-6-25 |
| 目的 : 以执行spectrofluorometric分析与高精度，而不影响通过所述样品的条件由提供装置用于分别检测所述激励光透过所述样品和通过所述的光所产生的荧光和校正所述所述荧光的检测值在根据所述激励光与所述的检测值。结构 : 该激励光源23通过选择形成所述光从激励光源12，如Xe灯到所需的波长的光通过一光谱仪13是通过一反射镜14照射在样品11用于其中一个模制树脂被使用。所发射的激发光16透过该样品11是由一光电管17检测。所述的后表面上所产生的荧光22所述样品11通过所述的光23被分割的频谱通过一光谱仪18和被检测到经由一反射镜19由一光电管20。所述之间的比所述管17，其是所述激励光的输出16作为一个参考和所述的输出管20，其是所述的所述的荧光强度22通过一个运算电路计算21，通过所述荧光，其中所述的光谱分析的结果被确定。 |
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