| 用于测量反射率装置 |
| JP59216215 1984-10-17 发明申请 |
| 1986-5-14 |
| 目的 : 以准确地执行所述测量的反射率与由于关于所述的一平面的方向极化，通过偏振旋转的所述平面在～°的角度和90C°到所述后linearily极化光的反射表面透过起偏器。结构 : 一个光源的光从所述灯1被传递通过一光谱仪2被转换以单色的光其是，在匝，linearily偏振通过偏振器3和，所述偏振的平面后其是由一flesnel菱形4旋转，所述linearily极化光被检测由所述光接收元件在一个反射率测量装置6用于测量该样品5的反射率。所述线性偏振器3和所述flesnel菱形4被附着到旋转机构7，8可旋转的围绕该轴线平行于所述的光学轴和旋转角度可以读取由indice9，10。当所述偏振器3被停止在一角度[!θ!]°，所述flesnel5月4日被旋转的角度的菱形[!θ!]\/2和45a°+[!θ!]\/2中，以便设定所述平面偏振的入射到该样品至10A°和90C°。 |
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