| 原子吸收分光光度计 |
| JP59078602 1984-4-20 发明申请 |
| 1985-11-7 |
| 目的 : 使它可以任意地调节所述一个装置到一个待分析的元件的灵敏度和该校准曲线的梯度,原子吸收分光光度计利用塞曼效应中,通过旋转该相位板设置一个光路径中的一种光学轴线周围由一预定角度。结构 : 一磁场被施加到一个待分析的样品5通过一磁铁4。光从光源1将通过所述待分析的样品5和进入一光谱仪7通过一个相位板,例如,一个可变相位板18通过层压获得的两个楔形液晶板21; 22。此后,该光被分离成线性极化光16,其中所述振动表面的波是平行以该磁铁4所述的所述磁场的方向,和线性偏振的光17,其中所述振动表面其是vartical到所述磁场的方向,由偏振器8。两个线性偏振的光16,17是由一旋转扇区10和分离入射到光电管12,同时制成的时间间歇交替。所述的通用的对数差信号对应于所述线性偏振的光16,17是成比例的所述所述物镜原子的量包含在所述待分析样品。当一偏振面是通过一预定角度旋转通过所述可变相位板18,所述的灵敏度一装置或所述的校准曲线的倾斜被调节对应于所述的角度。 |