| 质量fragmentgraphic装置 |
| JP59063842 1984-3-31 发明申请 |
| 1985-10-18 |
| 目的 : 以执行该解析的计算功率和millimass，通过引入一个参考质量分析的样品在所述所述质量光谱的峰值位置对准的时间在一个质量fragmentgraphy。结构 : 一参考样品被引入到一个所述简档的质量spectrumeterM和所述数据的所述所述参考样品的质量光谱峰值被获得。所述磁场的强度对应于该所述参考样品的质量光谱峰的中心为检测从所述数据和所述其进行设置，使得所述参考质量光谱峰值重合与一种离子发射狭缝和分辨力在所述质量良好的状态(真空状态)的spectrumeterM是计算从该简档数据。接着，该气态混合物的一测量样品和所述参考样品被引入到质量光谱仪m和所述磁场是固定到执行加速电压扫描。然后，离子加速电压是逐步改变在对准与一待测离子的质量到进行质谱扫描。在这种扫描，所述各离子的质量光谱所述的数据被存储在存储器和millimass和解析功率在所述引入所述样品是通过使用该数据计算的时间。 |
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